FIB SEM | Dual Beam | 全台藥局網

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学術分野や産業会の研究者やエンジニアは、さまざまな試料や材料の局所領域の解析を必要としており、常に新たな課題に直面しています。物質の品質を改善する継続的な努力が求められ、そこにはナノスケールの構造解析や組成情報が必要となることがほとんどです。DualBeam、集束イオンビーム走査電子顕微鏡(FIB-SEM)は、精密なFIB試料加工とSEMの高分解能イメージングを組み合わせることで、必要なデータを正確に提供しています。

サーモフィッシャーサイエンティフィックは、DualBeam装置に関して、25年以上の経験を有するFIB-SEM技術における業界のリーダーです。当社は、透過電子顕微鏡（TEM）の試料作製、表面下解析および3D解析、ナノプロトタイピング、in situ実験など、幅広いアプリケーションに対応する幅広い製品レンジと高度な自動化機能を提供しています。

TEM試料作製は、材料科学研究においてもっとも重要な作業の1つと考えられています。しかし、これはもっとも困難で時間のかかる作業の1つでもあります。DualBeamテクノロジーの最新の技術革新と当社の包括的なソフトウェアソリューションおよびアプリケーションの専門知識により、さまざまな材料の加工位置精度の高い高品質S/TEM（走査／透過電子顕微鏡）試料を迅速かつ簡単に作製できます。Thermo Scientific AutoTEMソフトウェアは、完全に自動化されたin situ TEM試料作製機能を追加し、スループットを大幅に向上させ、経験にかかわらず専門家レベルの結果を提供します。

DualBeam装置をThermo Scientific Auto Slice & Viewソフトウェアと組み合わせることで、表面下解析用に材料を部分的に除去（ミリング）し、試料の3D構造を明らかにできます。デジタル再構成は、材料のコントラストを最大化するための反射電子（BSE）イメージング、組成情報を得るためのエネルギー分散分光法（EDS）、...